技術(shù)編號(hào)：6094979
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種高溫氧化薄膜生長(zhǎng)應(yīng)力測(cè)定裝置，本實(shí)用新型用來(lái)測(cè)定金屬材料試樣在高溫下形成的表面氧化薄膜生長(zhǎng)應(yīng)力。目前材料科學(xué)的發(fā)展需要測(cè)定金屬材料在高溫下形成的表面氧化薄膜的生長(zhǎng)應(yīng)力。但現(xiàn)有的高溫X射線衍射儀只能測(cè)定試樣在高溫下形成的表面氧化薄膜中的各種應(yīng)力疊加的總和(其中包括熱應(yīng)力、組織應(yīng)力、生長(zhǎng)應(yīng)力等)。本實(shí)用新型目的就是為了研制一種能單獨(dú)測(cè)定金屬材料試樣在高溫下形成的表面氧化薄膜的生長(zhǎng)應(yīng)力。附圖說(shuō)明圖1是本實(shí)用新型示意圖。圖中(1)為高溫X射線衍射儀溫臺(tái)，(2)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。