技術(shù)編號(hào):6091491
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型是一種天平,特別適用于以沉降重量法測(cè)定粉體粒度及其分布,同時(shí)具有光學(xué)分析天平的功能。現(xiàn)有的沉降天平,如Gallenkamp沉降天平、Shimaelzu沉降天平等,都是用電磁起動(dòng),自動(dòng)加碼平衡顆粒沉降的原理,每次加碼的間隔量不變,造成在細(xì)粒級(jí)部分誤差較大,分散相顆粒濃度大(1~5%),操作復(fù)雜,易出故障。這些沉降天平僅適合測(cè)定100μm以下顆粒范圍和實(shí)驗(yàn)室研究之用,不適合工業(yè)常規(guī)例行測(cè)試工作。對(duì)大于100μm以上的多分散體都用篩析法。而篩析法存在篩...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。