技術(shù)編號(hào)：6090264
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置。對(duì)認(rèn)可參照文獻(xiàn)的指定國(guó)，可將下述申請(qǐng)中所記述的內(nèi)容利用參照加入本申請(qǐng)中，作為本申請(qǐng)記述的一部分。日本專(zhuān)利早期公開(kāi)的特愿2003-322094，申請(qǐng)日2003年9月12日。背景技術(shù) 在公知技術(shù)中，對(duì)半導(dǎo)體電路等電子元件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置，通過(guò)在電子元件上施加一定的圖案(pattern)而進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試裝置包括向電子元件施加預(yù)先所確定的圖案和測(cè)試速率等的測(cè)試模塊、用于控制測(cè)試模塊向電子元件施加圖案等的時(shí)序的時(shí)序控制模...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。