技術(shù)編號：6060887
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型提供一種下探針式接觸測試裝置，以解決被測元件無法準(zhǔn)確打在電極上的問題。本實(shí)用新型由基座、XY調(diào)整臺、氣缸、治具架臺、治具與下探針構(gòu)成，下探針安裝在治具的底部，治具通過治具架臺安裝在氣缸上，氣缸安裝在基座上，基座安裝在XY調(diào)整臺上。本實(shí)用新型通過XY調(diào)整臺，可進(jìn)行X向與Y向的微調(diào)，以確保被測元件可以準(zhǔn)確打在電極上。專利說明下探針式接觸測試裝置 [0001]本實(shí)用新型涉及一種接觸測試裝置，尤其是一種下探針式接觸測試裝置。 背景技術(shù) [000...
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