下探針式接觸測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種下探針式接觸測試裝置，以解決被測元件無法準確打在電極上的問題。本實用新型由基座、XY調(diào)整臺、氣缸、治具架臺、治具與下探針構成，下探針安裝在治具的底部，治具通過治具架臺安裝在氣缸上，氣缸安裝在基座上，基座安裝在XY調(diào)整臺上。本實用新型通過XY調(diào)整臺，可進行X向與Y向的微調(diào)，以確保被測元件可以準確打在電極上。
【專利說明】下探針式接觸測試裝置

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種接觸測試裝置，尤其是一種下探針式接觸測試裝置。

【背景技術】
[0002]目前，由于現(xiàn)有下探針式接觸測試裝置不具備X向與Y向的調(diào)整功能，因此，難以確保下探針能夠準確下降到其下方的被測電極上。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]針對上述問題中存在的不足之處，本實用新型提供一種能夠確保下探針能夠準確下降到其下方的被測電極上的下探針式接觸測試裝置。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供一種下探針式接觸測試裝置，由基座、XY調(diào)整臺、氣缸、治具架臺、治具與下探針構成，所述下探針安裝在所述治具的底部，所述治具通過所述治具架臺安裝在所述氣缸上，所述氣缸安裝在所述基座上，所述基座安裝在所述XY調(diào)整臺上。
[0005]與現(xiàn)有技術相比，本實用新型具有以下優(yōu)點:
[0006]本實用新型通過XY調(diào)整臺，可進行X向與Y向的微調(diào)，以確保下探針能夠準確下降到其下方的被測電極上。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1為本實用新型的結構示意圖。
[0008]主要附圖標記說明如下:
[0009]1-基座2-XY調(diào)整臺 3-氣缸
[0010]4-治具架臺5-治具6-下探針

【具體實施方式】
[0011]如圖1所示，本實用新型提供一種下探針式接觸測試裝置，由基座、XY調(diào)整臺、氣缸、治具架臺、治具與下探針構成，下探針安裝在治具的底部，治具通過治具架臺安裝在氣缸上，氣缸安裝在基座上，基座安裝在XY調(diào)整臺上。
[0012]本實用新型在使用時:
[0013]首先，通過XY調(diào)整臺對X向與Y向的進行微調(diào)，然后，氣缸在下降過程中，治具架臺以及安裝在其上的治具也隨著氣缸的移動一起移動，使探針可以下降到其下端的被測物電極上。
[0014]本實用新型通過XY調(diào)整臺，可進行X向與Y向的微調(diào)，以確保下探針能夠準確下降到其下方的被測電極上。
[0015]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，對發(fā)明而言僅僅是說明性的，而非限制性的。本專業(yè)技術人員理解，在發(fā)明權利要求所限定的精神和范圍內(nèi)可對其進行許多改變，修改，甚至等效，但都將落入本實用新型的保護范圍內(nèi)。
【權利要求】
1.一種下探針式接觸測試裝置，其特征在于，由基座、XY調(diào)整臺、氣缸、治具架臺、治具與下探針構成，所述下探針安裝在所述治具的底部，所述治具通過所述治具架臺安裝在所述氣缸上，所述氣缸安裝在所述基座上，所述基座安裝在所述XY調(diào)整臺上。
【文檔編號】G01R1/067GK203981725SQ201420344407
【公開日】2014年12月3日 申請日期:2014年6月23日 優(yōu)先權日:2014年6月23日
【發(fā)明者】劉衛(wèi)華 申請人:北京盈和工控技術有限公司