技術編號：6054066
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型公開了一種模擬集成電路芯片內部節(jié)點直流電壓的測試電路，設置于模擬集成電路芯片內部且用于測試模擬集成電路芯片內部的2n個待測節(jié)點的直流電壓。模擬集成電路芯片內部直流電壓的測試電路包括第一模擬焊盤、第二模擬焊盤、測試使能模塊、移位寄存器模塊、電壓選擇模塊、比較模塊以及待測節(jié)點選擇模塊。測試使能模塊包括測試使能單元。本實用新型提供的模擬集成電路芯片內部節(jié)點直流電壓的測試電路具有極大的通用性，使得對模擬電路的測試變得省時省力。專利說明模擬集成電路芯片內部...
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