技術(shù)編號(hào):6036762
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本新型涉及一種透視檢測(cè)裝置,尤其涉及一種電子組件透視檢測(cè)裝置。 背景技術(shù)目前, 一些高能量光源,例如,x光光源,伽瑪射線(xiàn)源,常應(yīng)用于計(jì)算機(jī)斷層影像系統(tǒng)中,用以檢測(cè)待測(cè)物的生化及病理特性。 一般而言,計(jì)算機(jī)斷層掃瞄(CT)中,利用X光做為光源并照射一待測(cè)檢測(cè)物,以得出該待測(cè)檢 測(cè)物的結(jié)構(gòu)性影像。而單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃瞄(SPECT)則使用放射性同 位素伽瑪射線(xiàn)造影,以得出該待測(cè)檢測(cè)物的功能性影像,例如,中國(guó)臺(tái)灣專(zhuān) 利公報(bào)的公告/公開(kāi)號(hào)00, 565, 43...
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