技術(shù)編號(hào)：6033443
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。IC測(cè)試裝置本實(shí)用新型涉及一種ic測(cè)試裝置，尤其是在一種探針導(dǎo)體上帶有導(dǎo)接材的ic測(cè)試裝置。背景技術(shù)現(xiàn)有技術(shù)中的一種測(cè)試電連接器，用以將一待測(cè)元件(圖未示)連接至一電路板2，其包 括一絕緣本體l、多個(gè)導(dǎo)電端子3、多個(gè)彈簧4和多個(gè)導(dǎo)接材5。如圖l所示為其部分剖視 圖，所述絕緣本體1設(shè)有收容所述端子的收容孔10，所述收容孔IO的一端口處設(shè)有一臺(tái) 階ll，所述電路板2封閉所述收容孔10的另一端口。所述導(dǎo)電端子3包括一接觸部31和 一抵持部32，所述彈簧4一端抵持...
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