技術(shù)編號(hào)：6027817
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于材料產(chǎn)品電鏡測試，涉及一種制備透射電子顯微鏡的材料橫截面測試樣品的新工藝，特別是。背景技術(shù)目前，在電子顯微鏡測試中，由于受電子穿透能力的限制，要想獲得好的透射電鏡對(duì)測試樣品的測試實(shí)驗(yàn)結(jié)果，首先應(yīng)制備出好的用透射電鏡測試或被測材料橫截面樣品，一個(gè)好的透射電鏡樣品的標(biāo)準(zhǔn)是樣品具有可供觀察的薄區(qū)，薄區(qū)的厚度一般為 IOOnm左右；如果要對(duì)樣品進(jìn)行高分辨顯微分析，則要求薄區(qū)的厚度小于30-40nm。因此透射電鏡樣品的制備，尤其是透射電鏡橫截面樣品的制備在...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。