技術(shù)編號(hào):6012939
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及,屬于數(shù)字集成電路SOC測(cè)試。背景技術(shù)隨著集成電路工藝的提高,由多個(gè)芯片構(gòu)成的復(fù)雜系統(tǒng)可以集成在一個(gè)芯片上, 系統(tǒng)芯片S0C(SyStem-on-a-Chip,S0C)應(yīng)運(yùn)而生。針對(duì)系統(tǒng)芯片的可靠性需求,SOC測(cè)試問(wèn)題得到了廣泛的研究。根據(jù)測(cè)試階段的不同,SOC測(cè)試可以分為離線測(cè)試和在線測(cè)試[1]。 離線測(cè)試指在系統(tǒng)不工作時(shí)進(jìn)行的測(cè)試。典型的離線測(cè)試方法有掃描設(shè)計(jì),邊界掃描設(shè)計(jì)和內(nèi)建自測(cè)試(Build-inlelf-Test,BIST)等。掃描設(shè)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。