技術(shù)編號：6010682
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及。背景技術(shù)現(xiàn)有的對非揮發(fā)存儲器電路比如FLASH存儲器的測試圖形數(shù)據(jù)主要包括全0，全1，棋盤格數(shù)據(jù)，對角線數(shù)據(jù)以及一些其他的數(shù)據(jù)比如5555，AAAA等。其中對角線數(shù)據(jù)可用于檢測存儲器的譯碼電路，同時(shí)可用于檢測或非型閃爍存儲器(NOR FLASH)的過擦除問題。但要寫成對角線的圖形數(shù)據(jù)，必須要求測試人員完全了解存儲器陣列的架構(gòu)。而且對于測試人員來說，不同的產(chǎn)品內(nèi)部架構(gòu)不同，存儲陣列中每個(gè)BIT的物理位置和地址的對應(yīng)關(guān)系也不同，需要分別開發(fā)向量來產(chǎn)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。