技術(shù)編號：6005483
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種電子部件的檢查裝置。 背景技術(shù)一直以來，已知有一種測定發(fā)光元件等電子部件的特性，根據(jù)其結(jié)果對電子部件進(jìn)行分類的裝置(參照專利文獻(xiàn)1)。專利文獻(xiàn)1日本特開2007-192576號公報(bào)發(fā)明內(nèi)容發(fā)明所要解決的技術(shù)課題近年來，電子部件有時使用硅等粘著性好的樹脂材料。例如，基于提高耐氣候性的觀點(diǎn)，有時在發(fā)光元件中設(shè)置采用硅構(gòu)成的透鏡。但是，在測定使用了這種粘著性好的樹脂材料的電子部件的特性的情況下，配置在測定位置的電子部件就會貼在周圍的部件上，有可能影...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。