技術(shù)編號：5963804
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種處理器單粒子效應(yīng)的檢測系統(tǒng)及方法，特別是涉及一種用于處理器不同工作頻率下單粒子效應(yīng)檢測的系統(tǒng)及方法，可應(yīng)用于航天、軍事電子元器件的考核與抗輻射加固工作。背景技術(shù)各種射線粒子作用于半導(dǎo)體器件將產(chǎn)生多種輻射效應(yīng)，這些輻射效應(yīng)將導(dǎo)致電子元器件的性能退化、功能異常甚至完全失效，嚴(yán)重時將導(dǎo)致系統(tǒng)發(fā)生災(zāi)難性的后果?？臻g高能重離子和質(zhì)子在航天器電子元器件中引起的狀態(tài)翻轉(zhuǎn)、鎖定、甚至燒毀等單粒子效應(yīng)現(xiàn)象，能造成器件瞬時的或永久性的損傷，高能粒子引起的單粒子效...
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