技術(shù)編號(hào):5963285
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開(kāi)涉及振蕩電路和測(cè)試電路,且更具體來(lái)說(shuō),涉及用于測(cè)量泄漏電流的振蕩電路和包括該振蕩電路的測(cè)試電路。背景技術(shù)近年來(lái),隨著集成電路的縮小,從保持在非導(dǎo)通狀態(tài)的晶體管泄漏的泄漏電流增大,并且已經(jīng)無(wú)法忽略泄漏電流造成的影響(例如,待機(jī)階段中功率消耗的增大)。鑒于此原因,例如,在集成電路的開(kāi)發(fā)階段、在集成電路的發(fā)行測(cè)試階段等,在許多情況下需要測(cè)量泄漏電流。泄漏電流取決于集成電路內(nèi)的晶體管的種類和形狀、制造階段中的質(zhì)量離散(dispersion)等而對(duì)于各晶體管大...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。