技術(shù)編號(hào):5954095
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用于檢驗(yàn)處理電子器件、尤其是計(jì)算機(jī)斷層造影設(shè)備的檢測(cè)器模塊的集成電路的一種設(shè)備和一種方法,即被構(gòu)造為使得這樣的檢測(cè)器模塊由此可以得到檢驗(yàn)。背景技術(shù)計(jì)算機(jī)斷層造影設(shè)備的檢測(cè)器模塊大多包括多個(gè)檢測(cè)器元件,其處理電子器件在安裝檢測(cè)器之前應(yīng)當(dāng)就該處理電子器件的質(zhì)量接受檢查。對(duì)處理電子器件、尤其是檢測(cè)器放大器、特別是模擬數(shù)字檢測(cè)器放大器的檢驗(yàn)或資格證明需要盡可能低噪聲的測(cè)量或檢驗(yàn)環(huán)境(在此,測(cè)量和檢驗(yàn)一般來(lái)說(shuō)同義地采用),該測(cè)量或檢驗(yàn)環(huán)境將高分辨率的檢測(cè)器...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。