技術(shù)編號：5942172
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種用于粉末衍射實驗的制樣方法，此方法適用于使用 Bragg-Brentano衍射幾何的衍射實驗。本發(fā)明涉及的方法可以有效降低粉末樣品在進行衍射實驗時的擇優(yōu)取向效應(yīng)，有效地解決了片狀、針狀粉末樣品的譜線重復(fù)性差的問題，特別適合于利用粉末衍射的譜線進行定量相分析與晶體結(jié)構(gòu)解析與精修的領(lǐng)域。背景技術(shù)粉末衍射的基本原理要求一束單色射線入射到取向完全任意的數(shù)目很大的小晶體上，由于小晶體的取向是任意的，每一組(hkl)點陣平面的衍射線都形成相應(yīng)的以入射線為...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。