技術(shù)編號：5934929
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及薄膜晶體管(Thin Film Transistor, TFT)液晶顯示器(LiquidCrystal Display, IXD)液晶面板的測試技術(shù),尤其涉及一種應(yīng)用于TFT測試的探針裝配器及測試裝置。背景技術(shù)作為TFT-IXD產(chǎn)品的一項重要的電學(xué)測試，現(xiàn)有的TFT特性測試都是采用單探針測量的方法，即為將柵極、源極驅(qū)動后使用一個測試探針在像素區(qū)域進(jìn)行電信號的探測，進(jìn)而根據(jù)探測得到的數(shù)據(jù)對TFT特性進(jìn)行分析。使用這種方法采用的測試裝置如圖I所示...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。