技術(shù)編號(hào)：5931241
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本案涉及一種在集成電路中之集成測(cè)試電路，其可被用來(lái)測(cè)試集成電路之內(nèi)電壓。本案亦有關(guān)于一種測(cè)試在集成電路中內(nèi)電壓之方法。背景技術(shù) 關(guān)于集成半導(dǎo)體電路的正確功能系在其制造期間與制造完成后進(jìn)行檢驗(yàn)，當(dāng)測(cè)試半導(dǎo)體電路時(shí)必須，特別是，測(cè)試在半導(dǎo)體電路內(nèi)部所產(chǎn)生的電壓，也就是測(cè)試內(nèi)部所產(chǎn)生的電壓是否對(duì)應(yīng)于期望的電壓。為了此一目的，通常的狀況是內(nèi)部所產(chǎn)生的電壓藉由特定的測(cè)試端而可由外部所存取，以至于連接的測(cè)試器裝置可將電壓引并且可以將后者與參考電壓進(jìn)行比較。為了節(jié)省在集...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。