技術(shù)編號：5916016
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種電子器件高溫老煉裝置，尤其是一種微波晶體管高溫老煉裝置。背景技術(shù)加速壽命試驗是在不改變產(chǎn)品失效機(jī)理的前提下，利用加大應(yīng)力的方法加快產(chǎn)品老化，從而在短時間內(nèi)獲得產(chǎn)品的失效信息，進(jìn)而預(yù)測其在正常應(yīng)力下的壽命特征，是快速計算產(chǎn)品壽命和評價長期使用可靠性的有效手段。微波晶體管對溫度應(yīng)力比較敏感，一般采用以溫度為主要應(yīng)力的加速壽命試驗。 硅器件額定結(jié)溫為175°C，而加速壽命試驗中的步進(jìn)應(yīng)力試驗可將結(jié)溫提高至400°C，相應(yīng)的管殼溫度也超過300°...
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