技術(shù)編號：5901820
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型屬于半導(dǎo)體行業(yè)，特別涉及半導(dǎo)體芯片測試的開爾文測試插座。 背景技術(shù)隨著半導(dǎo)體集成電路芯片運行速度的日益提高，芯片測試行業(yè)要求芯片測試夾具具有更好的高頻信號集成性能。在半導(dǎo)體芯片的實際測試中，測試夾具必須要求測試探針本身的電阻越小越好。在本實用新型作出之前，半導(dǎo)體芯片測試插座主要由三部分組成即探針保持板、芯片插座主體和測試探針。這種測試插座，一個芯片接觸點只與一根測試探針接觸，由于測試探針本身物理性能所決定，測試芯片和主板間客觀存在著電阻，直接影響...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。