技術(shù)編號：5893610
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及數(shù)字集成電路測試，特別涉及集成電路測試中的轉(zhuǎn)換延遲測試向量領(lǐng)域，具體涉及ー種。背景技術(shù)在數(shù)字電路測試領(lǐng)域，主要有兩種的故障模型跳變故障模型和延遲故障模型。目前集成電路芯片向著高集成度和小尺寸化發(fā)展，延遲故障發(fā)生概率變大，針對延遲故障的測試算法越來越顯得重要，延遲故障模型測試的特點在于產(chǎn)生的測試向量遠遠大于跳變故障模型，這對測試向量精簡算法提出了較高的要求，轉(zhuǎn)換延遲故障是指故障門在跳變過程中產(chǎn)生延遲故障，針對電路的延遲故障目前很多方法被提出，但大部...
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