技術(shù)編號(hào):5887413
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及電子及電路板檢測(cè)裝置領(lǐng)域,特別涉及一種電子及電路板探測(cè) 卡。背景技術(shù)電子元器件及電路板在生產(chǎn)過(guò)出來(lái)后,都需要對(duì)其進(jìn)行導(dǎo)電性、電參數(shù)等進(jìn)行檢 測(cè),減少不合格產(chǎn)品流入下一工序;同時(shí)由于電子及電路板檢測(cè)對(duì)檢測(cè)裝置要求高。目前電子及電路板探測(cè)裝置包括基座和與該基座固定的探針,采用該探測(cè)裝置在 對(duì)電子或電路板進(jìn)行檢測(cè)時(shí),電子或電路板被檢測(cè)的兩個(gè)檢測(cè)點(diǎn)之間的距離較小,探針之 間的距離也很小,特別是探針的探測(cè)端之間的距離與被檢測(cè)的距離相當(dāng)。在檢測(cè)時(shí)所述探 ...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。