技術編號：5885446
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及檢查系統(tǒng)、檢查方法、CT裝置以及探測裝置。 背景技術為了解決CT裝置掃描速度問題，常規(guī)的方法就是使用多排探測器，從而每次可以同時采集多排數(shù)據(jù)，例如專利申請W02005/lli^97。但是由于探測器成本較高，大幅增加排數(shù)顯得不那么現(xiàn)實。發(fā)明內容本發(fā)明中提出檢查系統(tǒng)、檢查方法、CT裝置以及探測裝置，其中探測裝置能夠在增加探測裝置有效探測面積的情況下，有效減少探測器排數(shù)，從而降低了探測裝置的成本。根據(jù)本發(fā)明的一方面，本發(fā)明提出了一種檢查系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括...
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