技術(shù)編號：5884478
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種測試裝置，尤其是一種數(shù)字半導(dǎo)體器件的測試裝置。本發(fā)明還涉及一種測試方法，尤其是一種數(shù)字半導(dǎo)體器件的測試方法。背景技術(shù)邏輯測試儀的優(yōu)點是數(shù)字通道靈活多變，向量發(fā)生器為SQPG模式，生成的向量變化復(fù)雜度高，向量存儲深度大，缺點是數(shù)字通道數(shù)量少，單價貴，同測數(shù)相對較少；存儲器測試儀結(jié)構(gòu)如圖ι所示，主要由管腳電路模塊(PE模塊，Pin Electronics)、波形格式控制器模塊(TGFC 模塊，Timing Generator Format Con...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。