技術(shù)編號：5883986
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及芯片測試，特別涉及一種測試芯片的方法及裝置。 背景技術(shù)芯片驗證及測試對于芯片的量產(chǎn)是非常重要的環(huán)節(jié)，對每顆芯片在出貨前都要進行功能性測試，以保證出貨芯片的良率，而這個測試過程也直接影響了芯片的成本。傳統(tǒng)的芯片驗證測試方法包括了中間對晶圓的數(shù)字邏輯部分的測試，簡稱CP^S 端的數(shù)字和模擬測試，簡稱終端測試(FT，F(xiàn)inal Test)測試或者操縱臺測試(BBT，Bench Board Test)軟件測試。FT測試需要專門的芯片測試廠家來完成，這樣，...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。