技術(shù)編號：5882749
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件極間電壓測試領(lǐng)域，具體涉及一種半導(dǎo)體C / B(E)間電壓測試電路。背景技術(shù)現(xiàn)有技術(shù)的半導(dǎo)體測試儀C / B(E)極間電壓一般在千伏內(nèi)，且測試精度較低，故障率較高，不能測試千伏以上的極間電壓，影響了半導(dǎo)體測試儀的使用范圍。技術(shù)內(nèi)容為了克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，本發(fā)明提供一種可測試千伏以上高壓且精度高、故障率低的半導(dǎo)體C / B(E)間電壓測試電路。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是一種半導(dǎo)體C / B(E)極間電壓測試電路，其特征在于是...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。