技術(shù)編號(hào)：5878871
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種電路板及利用該電路板所組成的探針卡結(jié)構(gòu)，尤指一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn) 易、成本低廉且電路訊號(hào)傳輸質(zhì)量佳的測(cè)試用電路板，以及藉該電路板所組成的探針卡結(jié) 構(gòu)。背景技術(shù)一般電路板及電子組件(尤其如較精密的集成電路芯片)于成型后，皆需經(jīng)由測(cè) 試以確定其質(zhì)量是否合乎規(guī)范，而較常見(jiàn)的測(cè)試方式，系以一測(cè)試卡(例如集成電路測(cè)試 卡)設(shè)置于該電路板、電子組件(例如集成電路芯片)與相關(guān)測(cè)試裝置之間，使該電路板或 電子組件的各接點(diǎn)，得以與測(cè)試裝置的對(duì)應(yīng)接點(diǎn)形成電連接，藉以執(zhí)行各...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。