技術(shù)編號(hào)：5842777
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是關(guān)于一種電子元件測試裝置及其測試方法，尤其指可以將電子元件翻轉(zhuǎn)到不同角度以進(jìn)行測試的測試裝置及其測試方法。 背景技術(shù)為了確保電子元件在使用時(shí)的品質(zhì)、速率、穩(wěn)定性及兼容性等相關(guān)問題，通常會(huì)于電子元件制造過程中及制造完成出廠之前，進(jìn)行相關(guān)的電性測試。近幾年來電子元件的使用場合逐漸從靜態(tài)的設(shè)備擴(kuò)展到動(dòng)態(tài)使用的裝置與設(shè)備，例如Wii、陀螺儀、平衡器、加速計(jì)等，但電子元件的現(xiàn)有測試設(shè)備，卻仍停留在傳統(tǒng)的靜態(tài)電性測試，并未能仿真電子元件實(shí)際使用時(shí)的情境而進(jìn)行電...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。