技術編號：5839785
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。依照權(quán)利要求1的前序所述，本發(fā)明涉及一種確定電位測量探針的剩余工作時間的方法。另外，本發(fā)明的范圍還包括實施該方法的裝置以及該裝置的用途?，F(xiàn)有技術狀況在電位法測量離子濃度或還原電位方面已廣泛使用的測量探針裝配了多孔材料膜片。膜片用于使測量探針內(nèi)容納的通常為液態(tài)形式的參考電解質(zhì)和/或橋電解質(zhì)與測試溶液接觸。特別是在化學或微生物過程監(jiān)控和過程控制應用中，膜片遭受污染，會使測量結(jié)果出錯。DE3405431 C2中披露的另一種測量探針沒有膜片，效果顯著的是，該探針不...
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