技術(shù)編號(hào)：5832247
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及測(cè)量電路及測(cè)試設(shè)備，尤其涉及對(duì)被測(cè)試裝置加直流電壓， 測(cè)量上述被測(cè)試裝置通過的直流電流。本申請(qǐng)與下列日本申請(qǐng)有關(guān)。對(duì)于 承認(rèn)通過文獻(xiàn)參考編入內(nèi)容的指定國，通過參考下列申請(qǐng)記載的內(nèi)容編入 本申請(qǐng)，作為本申請(qǐng)的一部分。l.專利申請(qǐng)2006-310358，申請(qǐng)日2006年11月16日。 背景技術(shù)作為半導(dǎo)體電路等的被測(cè)試裝置的測(cè)試項(xiàng)目，公知的有對(duì)被測(cè)試裝置 的直流測(cè)試。所謂直流測(cè)試，是通過測(cè)量供給到被測(cè)試裝置中的電源電流或電源電壓，判定被測(cè)試裝置的好壞的...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。