技術編號：5821375
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種測試裝置，特別是一種超聲波掃描儀。 背景技術目前隨著半導體產業(yè)的蓬勃發(fā)展，半導體芯片(IC)在整個電子產業(yè)應用相當廣泛。由 于制造工藝水平等問題，無法保證所有IC在制造和封裝過程中內部不存在缺陷，由于內部缺 陷從外觀無法檢驗，業(yè)界的IC制造企業(yè)、模塊及IC測試機構通常使用超聲波掃描儀進行無損檢測。超聲波掃描儀用于驗證ic在生產、存放、測試等過程中其封裝有無受到溫濕度及周圍環(huán)境的影響，使其內部受到損壞從而不能正常的工作。其特點在于能夠精確的反映...
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