技術(shù)編號(hào)：51900
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。專利摘要本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種用于電子背散射衍射儀的樣品臺(tái)，涉及巖石樣品分析測(cè)試領(lǐng)域，能夠在保證實(shí)驗(yàn)的安全性的同時(shí)滿足樣品尺寸大、導(dǎo)電性差的樣本進(jìn)行有標(biāo)樣的測(cè)試需求。本實(shí)用新型包括樣品臺(tái)的固定面與底座呈70°夾角，固定面上開有凹槽，凹槽用于安裝并固定薄片樣品，凹槽與薄片樣品的尺寸吻合；凹槽的深度與薄片樣品的厚度一致，當(dāng)薄片樣品安裝在凹槽中時(shí)，薄片樣品的待測(cè)表面與固定面的表面處于同一平面。固定面上開有用于安裝單晶硅標(biāo)樣的標(biāo)樣凹槽，標(biāo)樣凹槽的深度與單晶硅標(biāo)樣的厚度一致，當(dāng)單晶硅標(biāo)樣安裝在標(biāo)樣凹槽中時(shí)，單晶硅標(biāo)樣的待...
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