技術(shù)編號(hào):40469486
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本技術(shù)為芯片檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)。背景技術(shù)、集成電路英語(yǔ):integrated?circuit,縮寫ic;或稱微電路(microcircuit)、微芯片(microchip)、晶片/芯片(chip)在電子學(xué)中是一種將電路(主要包括半導(dǎo)體設(shè)備,也包括被動(dòng)組件等)小型化的方式,并時(shí)常制造在半導(dǎo)體晶圓表面上。、為了保證芯片的質(zhì)量和性能符合要求,需要對(duì)芯片進(jìn)行相應(yīng)的檢測(cè)。但是現(xiàn)有的芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu),如通過(guò)芯片檢測(cè)治具對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)時(shí),每次都需要人工手動(dòng)開(kāi)合治具蓋,這樣一來(lái),便會(huì)非常的麻煩,...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。