本技術(shù)為芯片檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

背景技術(shù)：

1、集成電路英語(yǔ)：integrated?circuit，縮寫ic；或稱微電路（microcircuit）、微芯片（microchip）、晶片/芯片（chip）在電子學(xué)中是一種將電路（主要包括半導(dǎo)體設(shè)備，也包括被動(dòng)組件等）小型化的方式，并時(shí)常制造在半導(dǎo)體晶圓表面上。

2、為了保證芯片的質(zhì)量和性能符合要求，需要對(duì)芯片進(jìn)行相應(yīng)的檢測(cè)。但是現(xiàn)有的芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)，如通過(guò)芯片檢測(cè)治具對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，每次都需要人工手動(dòng)開(kāi)合治具蓋，這樣一來(lái)，便會(huì)非常的麻煩，從而影響檢測(cè)效率。

3、因此，發(fā)明一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)顯得非常必要。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)采用的技術(shù)方案為：一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)，包括凸字基座，其中：所述凸字基座一側(cè)的內(nèi)部開(kāi)設(shè)有測(cè)試板安裝腔，且凸字基座上方的兩側(cè)均布開(kāi)設(shè)有安裝口；所述安裝口與測(cè)試板安裝腔之間連通；所述凸字基座上固定安裝有驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，且驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)處于兩個(gè)安裝口之間；

2、優(yōu)選的，所述凸字基座的測(cè)試板安裝腔中固定安裝有芯片測(cè)試板，且凸字基座的安裝口中各固定安裝有芯片基座；

3、優(yōu)選的，所述芯片測(cè)試板處于安裝口下方的一側(cè)各設(shè)置有相應(yīng)的引腳連接孔；

4、優(yōu)選的，所述芯片基座中開(kāi)設(shè)有相應(yīng)的引腳插孔和限位孔，且引腳插孔和限位孔與引腳連接孔的一一對(duì)應(yīng)，該引腳插孔和限位孔與對(duì)應(yīng)的引腳連接孔連通；所述引腳插孔和限位孔同軸心，該引腳插孔和限位孔連通；所述引腳插孔的直徑大于限位孔的直徑；所述引腳插孔和限位孔中滑動(dòng)安裝有連接機(jī)構(gòu)；

5、優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括機(jī)箱和v形架板，且機(jī)箱固定安裝在凸字基座上，該機(jī)箱的一側(cè)開(kāi)設(shè)有限位槽；所述機(jī)箱的內(nèi)部固定安裝有電機(jī)，且電機(jī)的輸出端從機(jī)箱中轉(zhuǎn)動(dòng)伸到限位槽中；所述v形架板處于限位槽中，且v形架板的連接處與電機(jī)的輸出端固定連接，該v形架板與限位槽之間轉(zhuǎn)動(dòng)連接；

6、優(yōu)選的，所述v形架板的兩端各固定安裝有按壓頭，且按壓頭處于對(duì)應(yīng)芯片基座的正上方。

7、優(yōu)選的，所述凸字基座帶有測(cè)試板安裝腔的一側(cè)開(kāi)設(shè)有手指槽，且手指槽與測(cè)試板安裝腔連通；所述凸字基座上固定設(shè)置有控制芯片測(cè)試板和電機(jī)用的控制按鍵，以及顯示芯片檢測(cè)數(shù)據(jù)用的顯示屏，且控制按鍵和顯示屏與芯片測(cè)試板電性連接。

8、優(yōu)選的，所述芯片測(cè)試板的電源線從凸字基座中穿出。

9、優(yōu)選的，所述芯片基座上的兩側(cè)均布開(kāi)設(shè)有手指槽二。

10、優(yōu)選的，所述連接機(jī)構(gòu)包括插針，且插針的頂端設(shè)置有一體式的防脫帽，該插針上套設(shè)有壓縮彈簧；所述插針滑動(dòng)安裝在對(duì)應(yīng)的引腳插孔和限位孔中，且防脫帽滑動(dòng)安裝在引腳插孔中；所述壓縮彈簧處于引腳插孔中，且壓縮彈簧的一端與芯片基座固定連接，該壓縮彈簧的另一端與防脫帽固定連接；所述防脫帽的直徑大于插針的直徑。

11、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于：

12、本實(shí)用新型整體的設(shè)置，在對(duì)芯片測(cè)試的過(guò)程中，不用人工對(duì)測(cè)試治具進(jìn)行開(kāi)合蓋，同時(shí)在一個(gè)芯片基座中放置芯片檢測(cè)的過(guò)程中，可提前在另一個(gè)芯片基座中放置待檢測(cè)的芯片，這樣一來(lái)，便能使兩個(gè)芯片基座交替放置芯片，并配合芯片測(cè)試板對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)，從而使得整體更加的方便和靈活。

技術(shù)特征：

1.一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于：包括凸字基座（1），其中：所述凸字基座（1）一側(cè)的內(nèi)部開(kāi)設(shè)有測(cè)試板安裝腔（2），且凸字基座（1）上方的兩側(cè)均布開(kāi)設(shè)有安裝口（3）；所述安裝口（3）與測(cè)試板安裝腔（2）之間連通；所述凸字基座（1）上固定安裝有驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，且驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)處于兩個(gè)安裝口（3）之間；

2.如權(quán)利要求1所述的一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述凸字基座（1）帶有測(cè)試板安裝腔（2）的一側(cè)開(kāi)設(shè)有手指槽（4），且手指槽（4）與測(cè)試板安裝腔（2）連通；所述凸字基座（1）上固定設(shè)置有控制芯片測(cè)試板（5）和電機(jī)用的控制按鍵（6），以及顯示芯片檢測(cè)數(shù)據(jù)用的顯示屏（7），且控制按鍵（6）和顯示屏（7）與芯片測(cè)試板（5）電性連接。

3.如權(quán)利要求1所述的一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述芯片測(cè)試板（5）的電源線從凸字基座（1）中穿出。

4.如權(quán)利要求1所述的一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述芯片基座（8）上的兩側(cè)均布開(kāi)設(shè)有手指槽二（13）。

5.如權(quán)利要求1所述的一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述連接機(jī)構(gòu)包括插針（16），且插針（16）的頂端設(shè)置有一體式的防脫帽（17），該插針（16）上套設(shè)有壓縮彈簧（18）；所述插針（16）滑動(dòng)安裝在對(duì)應(yīng)的引腳插孔（14）和限位孔（15）中，且防脫帽（17）滑動(dòng)安裝在引腳插孔（14）中；所述壓縮彈簧（18）處于引腳插孔（14）中，且壓縮彈簧（18）的一端與芯片基座（8）固定連接，該壓縮彈簧（18）的另一端與防脫帽（17）固定連接。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)提供一種芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu)，包括凸字基座，其中：所述凸字基座一側(cè)的內(nèi)部開(kāi)設(shè)有測(cè)試板安裝腔，且凸字基座上方的兩側(cè)均布開(kāi)設(shè)有安裝口；所述安裝口與測(cè)試板安裝腔之間連通；所述凸字基座上固定安裝有驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，且驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)處于兩個(gè)安裝口之間；本技術(shù)把手，在對(duì)芯片測(cè)試的過(guò)程中，不用人工對(duì)測(cè)試治具進(jìn)行開(kāi)合蓋，同時(shí)在一個(gè)芯片基座中放置芯片檢測(cè)的過(guò)程中，可提前在另一個(gè)芯片基座中放置待檢測(cè)的芯片，這樣一來(lái)，便能使兩個(gè)芯片基座交替放置芯片，并配合芯片測(cè)試板對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)，從而使得整體更加的方便和靈活。

技術(shù)研發(fā)人員：劉佳影,陳月
受保護(hù)的技術(shù)使用者：江蘇芯海技術(shù)開(kāi)發(fā)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240417
技術(shù)公布日：2024/12/26