技術(shù)編號:40393250
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明實(shí)施例涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法。背景技術(shù)、mos(金屬-氧化物-半導(dǎo)體)晶體管,是現(xiàn)代集成電路中最重要的元件之一,mos晶體管的基本結(jié)構(gòu)包括:半導(dǎo)體襯底;位于半導(dǎo)體襯底表面的,所述包括:位于半導(dǎo)體襯底表面的柵介質(zhì)層以及位于柵介質(zhì)層表面的柵電極層;位于兩側(cè)半導(dǎo)體襯底中的源漏摻雜區(qū)。mos包括pmos晶體管和nmos晶體管。、為了適應(yīng)集成電路設(shè)計(jì)中不同晶體管的開關(guān)速度的需要,需要形成具有多閾值電壓的晶體管。、為了減小調(diào)節(jié)pmos晶體管和nmos晶體管的閾值電...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。