技術編號：40385496
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于存儲模塊性能測試，涉及存儲模塊的高溫測試技術，具體為存儲模塊溫度控制系統(tǒng)及方法。背景技術、存儲模塊是用來存儲程序和各種數(shù)據(jù)信息的記憶部件，其是許多存儲單元的集合，各存儲單元按照順序排列，每個存儲單元由若干二進制位構成，以表示存儲單元中存放的數(shù)據(jù)。、存儲模塊在生產完成后要對其進行性能測試，以測試其是否存在生產不良。其中，高溫測試也是存儲模塊的性能測試中重要的測試項之一，其目的是為了確保存儲模塊在高溫環(huán)境中使用的可靠性?，F(xiàn)有技術中，存儲模塊的高溫測試過程為：將存儲模塊置于溫控設備中，采...
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