技術(shù)編號：40384086
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本技術(shù)涉及顯示，特別是涉及了一種測量電磁屏蔽膜綜合性能的軟性線路板。背景技術(shù)、emi接地電阻是emi導(dǎo)通性能重要指標。emi接地開窗形狀、大小，對emi導(dǎo)通性能有直接影響。在測量emi接地電阻時，通常需要測量多個數(shù)據(jù)進行分析取值。一般貼附于手機類顯示模組用fpc的emi，其接地開窗直徑規(guī)格不一，也沒有比較好的測試點可以測量emi接地阻值。而且，emi的耐化學(xué)腐蝕性能，也是其重要性能指標。emi的鉛筆硬度、耐摩擦性能，是其重要物理性能。、如中國實用新型專利（cnu）公開了一種...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。