技術編號:3375390
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種原位X射線衍射表征!^e-Mn-Si基記憶合金回復特性的方法。 背景技術Fe-Mn-Si基記憶合金是上世紀80年代以來發(fā)展的具有價格低廉、材料易加工等優(yōu)點的記憶合金材料。 ^-Μη-Si基記憶合金的形狀記憶效應是由形變時發(fā)生應力誘發(fā) Y (fee) — ε (hep)轉(zhuǎn)變以及加熱過程中發(fā)生ε (hep) — γ (fee)逆相變實現(xiàn)的?,F(xiàn)有的關于!^e-Mn-Si基記憶合金組織和相變研究大多使用光學顯微鏡、掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡來進行...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。