技術(shù)編號：3191963
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種應(yīng)用于等離子切割系統(tǒng)中的割炬高度測試系統(tǒng)，屬于等離子數(shù)控切割控制領(lǐng)域。技術(shù)背景目前，等離子切割系統(tǒng)一般包括數(shù)控系統(tǒng)、調(diào)高系統(tǒng)和等離子系統(tǒng)。當(dāng)待切割的工件置于切割平臺上后，調(diào)高系統(tǒng)根據(jù)該工件的引弧高度等參數(shù)自動調(diào)整割炬到一個設(shè)定切割高度，然后由數(shù)控系統(tǒng)控制等離子系統(tǒng)中的等離子割炬進(jìn)行切割作業(yè)。但是，工件在實(shí)際切割過程中會發(fā)生變形或其他情況，因此，在整個切割過程中都使用預(yù)先設(shè)定的固定切割高度來對工件進(jìn)行切割的話，便無法達(dá)到理想的切割效果，切割...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。