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離子遷移率分析裝置及離子遷移率分析方法技術(shù)資料下載

技術(shù)編號(hào):2963171

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本發(fā)明,涉及分析用離子源所離子化的離子的。背景技術(shù) 離子遷移率被廣泛地用于氣體檢測(cè)器等中。除了用離子遷移率法檢測(cè)離子之外,還有質(zhì)譜分析法。在離子遷移率法中,通過(guò)離子移動(dòng)度進(jìn)行分離,而在質(zhì)譜分析法中,則是通過(guò)離子的質(zhì)量電荷比進(jìn)行分離,兩種方法基本上不同。在離子遷移率法中,在10mTorr以上的壓力下進(jìn)行,在離子分離時(shí)的離子與氣體間的碰撞劇烈,而積極地利用了離子和氣體的效果。在質(zhì)譜分析法中,在10mTorr以下的壓力下進(jìn)行,在離子分離時(shí)的離子與氣體的碰撞次數(shù)少...
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