技術(shù)編號：2945176
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種光學(xué)裝置，尤其涉及一種光束線站上使用的光強(qiáng)探測電離室。背景技術(shù)同步輻射裝置是一種可以進(jìn)行多種科學(xué)研究的設(shè)備，是一種先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)手段。同步輻射裝置是通過光束線引入到實(shí)驗(yàn)站進(jìn)行科學(xué)實(shí)驗(yàn)研究。隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，在實(shí)驗(yàn)中對光強(qiáng)測量精確度的要求也越來越高。目前，基本上所有的光束線站都需要測量實(shí)驗(yàn)光束的強(qiáng)度，而最常用的光強(qiáng)測量技術(shù)就是使用電離室進(jìn)行光強(qiáng)監(jiān)測。電離室采用一般商品化的電離室，是一種獨(dú)立設(shè)備，其兩端密封并設(shè)有通光窗口，窗口材料通常使用Kap...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。