專利名稱：一種光強(qiáng)探測電離室的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)裝置，尤其涉及一種光束線站上使用的光強(qiáng)探測電離室。
背景技術(shù)：
同步輻射裝置是一種可以進(jìn)行多種科學(xué)研究的設(shè)備，是一種先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)手段。同步輻射裝置是通過光束線引入到實(shí)驗(yàn)站進(jìn)行科學(xué)實(shí)驗(yàn)研究。隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，在實(shí)驗(yàn)中對光強(qiáng)測量精確度的要求也越來越高。目前，基本上所有的光束線站都需要測量實(shí)驗(yàn)光束的強(qiáng)度，而最常用的光強(qiáng)測量技術(shù)就是使用電離室進(jìn)行光強(qiáng)監(jiān)測。電離室采用一般商品化的電離室，是一種獨(dú)立設(shè)備，其兩端密封并設(shè)有通光窗口，窗口材料通常使用Kapton膜(Kapton是美國杜邦公司生產(chǎn)的聚酰亞胺薄膜材料的商品名稱，其具有優(yōu)良的化學(xué)穩(wěn)定性、耐高溫性、堅(jiān)韌性、耐磨性、阻燃性、電絕緣性)，電離室內(nèi)部充有電離氣體但是，直接使用一般商品化的電離室進(jìn)行光強(qiáng)檢測存在一定的問題電離室在使用時(shí)是安裝在光束線上的，其兩端均有一段空氣間隙，空氣間隙和密封窗口材料均會吸收光束并產(chǎn)生散射，從而會影響到實(shí)驗(yàn)的光通量和實(shí)驗(yàn)結(jié)果，尤其是對于弱信號的實(shí)驗(yàn)，例如X射線小角散射等。由于空氣間隙對光束的吸收，使得光束到達(dá)樣品的光強(qiáng)減少，從而在實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理中影響到結(jié)果的精確度。另一方面，在實(shí)驗(yàn)操作中，經(jīng)常會由于操作不當(dāng)?shù)仍蚨茐碾婋x室的Kapton膜窗口，從而影響到實(shí)驗(yàn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種光強(qiáng)探測電離室，該電離室應(yīng)當(dāng)能夠消除其兩端空氣間隙對光束的吸收問題，從而提高光強(qiáng)測量精確度；此外，該電離室還應(yīng)當(dāng)能夠消除由于操作不當(dāng)?shù)仍蚨茐碾婋x室窗口的聚酰亞胺薄膜的問題。根據(jù)上述發(fā)明的目的，本發(fā)明提出了一種光強(qiáng)探測電離室，其包括一電離室本體；兩個(gè)轉(zhuǎn)接法蘭，其分別沿電離室本體的軸向方向設(shè)于電離室本體的兩端；各轉(zhuǎn)接法蘭與電離室本體密封連接；兩透光窗口，分別設(shè)于各轉(zhuǎn)接法蘭與電離室本體連接的端面上，各透光窗口上均設(shè)有一透光膜。該透光膜可以是聚酰亞胺薄膜，與法蘭密封連接。在本技術(shù)方案中，光束從透光窗口上的聚酰亞胺薄膜射入電離室本體，從而對光束強(qiáng)度進(jìn)行探測。由于電離室本體兩端的轉(zhuǎn)接法蘭可分別與光束線管道密封連接，從而消除了原有電離室兩端的空氣間隙，因此本技術(shù)方案所述的電離室能夠消除空氣間隙對射入光束的影響，提聞了實(shí)驗(yàn)的精確性。在上述的光強(qiáng)探測電離室中，電離室本體上還分別連接有一進(jìn)氣管道和一出氣管道，進(jìn)氣管道和出氣管道上分別對應(yīng)設(shè)有一進(jìn)氣閥和一排氣閥。由于電離室本體由轉(zhuǎn)接法蘭密封，通過帶有進(jìn)氣閥的進(jìn)氣通道與帶有排氣閥的出氣通道能夠?qū)崿F(xiàn)在密封氣體和流動(dòng)氣體兩種模式中進(jìn)行光強(qiáng)測試進(jìn)出氣閥均關(guān)閉，此時(shí)電離室本體中為密封氣體；進(jìn)出氣閥均打開，此時(shí)電離室本體中為流動(dòng)氣體。本發(fā)明所述的光強(qiáng)探測電離室具有下列優(yōu)點(diǎn) (I)本發(fā)明所述的電離室的兩端沒有空氣間隙，因此消除了這段空氣間隙對光束產(chǎn)生的吸收和散射的作用，從而提高了實(shí)驗(yàn)的精確性；(2)本發(fā)明所述的電離室提高了光束到達(dá)樣品的光通量，并且降低了探測信號的
噪聲；(3)本發(fā)明所述的電離室還能夠節(jié)約光束線站的空間；(4)采用本發(fā)明所述的電離室還能夠避免由于操作不當(dāng)?shù)仍蚨茐碾婋x室窗口的聚酰亞胺薄膜的問題。


圖I是本發(fā)明所述的光強(qiáng)探測電離室在一種實(shí)施方式下的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是圖I的側(cè)視圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合說明書附圖和具體的實(shí)施例對本發(fā)明所述的光強(qiáng)探測電離室做進(jìn)一步的詳細(xì)說明。圖I顯示了本發(fā)明所述的光強(qiáng)探測電離室在本實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)。圖2是圖I的側(cè)視圖。如圖I、圖2所示，兩個(gè)轉(zhuǎn)接法蘭2分別沿電離室本體I的軸向方向設(shè)于電離室本體I的兩端，各轉(zhuǎn)接法蘭2與電離室本體I密封連接。兩個(gè)透光窗口 3分別設(shè)于各轉(zhuǎn)接法蘭2與電離室本體I連接的端面上，各透光窗口 3上均設(shè)有一聚酰亞胺薄膜，本實(shí)施例中該聚酰亞胺薄膜采用美國杜邦公司生產(chǎn)的Kapton膜，也可以選擇滿足透光要求的其它薄膜。電離室本體I上還分別連接有進(jìn)氣管道4和出氣管道6，進(jìn)氣管道4和出氣管道6上分別對應(yīng)設(shè)有進(jìn)氣閥5和排氣閥7。請繼續(xù)參閱圖I、圖2，在本實(shí)施例中，光束通過透光窗口 3上的Kapton膜射入電離室本體I內(nèi)，從而對光束強(qiáng)度進(jìn)行探測。由于電離室本體I兩端的轉(zhuǎn)接法蘭2可分別與光束線管道密封連接，從而消除了原有電離室兩端的空氣間隙，因此本實(shí)施例所述的電離室能夠消除空氣間隙對射入光束的影響，提高了實(shí)驗(yàn)的精確性。此外，由于電離室本體I由轉(zhuǎn)接法蘭2密封，通過帶有進(jìn)氣閥5的進(jìn)氣通道4與帶有排氣閥7的出氣通道6能夠?qū)崿F(xiàn)在密封氣體和流動(dòng)氣體兩種模式中進(jìn)行光強(qiáng)測試進(jìn)出氣閥5、7均關(guān)閉，此時(shí)電離室本體I中為密封氣體；進(jìn)出氣閥5、7均打開，此時(shí)電離室本體I中為流動(dòng)氣體。要注意的是，以上列舉的僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例，顯然本發(fā)明不限于以上實(shí)施例，隨之有著許多的類似變化。本領(lǐng)域的技術(shù)人員如果從本發(fā)明公開的內(nèi)容直接導(dǎo)出或聯(lián)想到的所有變形，均應(yīng)屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種光強(qiáng)探測電離室，其包括一電離室本體，其特征在于，還包括 兩個(gè)轉(zhuǎn)接法蘭，分別沿所述電離室本體的軸向方向設(shè)于電離室本體的兩端；所述各轉(zhuǎn)接法蘭與電離室本體密封連接； 兩透光窗口，分別設(shè)于所述各轉(zhuǎn)接法蘭與電離室本體連接的端面上，所述各透光窗口上均設(shè)有一透光膜。
2.如權(quán)利要求I所述的光強(qiáng)探測電離室，其特征在于所述透光膜為聚酰亞胺薄膜。
3.如權(quán)利要求I或2所述的光強(qiáng)探測電離室，其特征在于 所述電離室本體上還分別連接有一進(jìn)氣管道和一出氣管道，所述進(jìn)氣管道和出氣管道上分別對應(yīng)設(shè)有一進(jìn)氣閥和一排氣閥。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光強(qiáng)探測電離室，其包括一電離室本體；兩個(gè)轉(zhuǎn)接法蘭，分別沿電離室本體的軸向方向設(shè)于電離室本體的兩端；各轉(zhuǎn)接法蘭與電離室本體密封連接；兩透光窗口，分別設(shè)于各轉(zhuǎn)接法蘭與電離室本體連接的端面上，各透光窗口上均設(shè)有一透光膜。本發(fā)明所述的光強(qiáng)探測電離室沒有空氣間隙，因此消除了這段空氣間隙對光束產(chǎn)生的吸收和散射的作用，從而提高了實(shí)驗(yàn)的精確性；并且該電離室提高了光束到達(dá)樣品的光通量，并且降低了探測信號的噪聲；該電離室還能夠節(jié)約光束線站的空間；此外，采用本發(fā)明所述的電離室還能夠避免由于操作不當(dāng)?shù)仍蚨茐碾婋x室窗口的聚酰亞胺薄膜的問題。
文檔編號H01J47/02GK102623290SQ20121005879
公開日2012年8月1日 申請日期2012年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月7日
發(fā)明者周平, 李秀宏, 王劼, 王玉柱, 田豐, 邊風(fēng)剛 申請人:中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所