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用于相移光刻掩模的光學(xué)接近校正的制作方法技術(shù)資料下載

技術(shù)編號:2760901

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本發(fā)明涉及使用光刻掩模來制造諸如集成電路的物體的小尺寸圖形(features)。更具體地,本發(fā)明涉及用于集成電路和類似物體的復(fù)雜布局的相移掩模以及接近校正,其中包括但不限于光學(xué)接近校正和蝕刻接近校正。背景技術(shù) 相移掩模已經(jīng)被用來創(chuàng)建集成電路中的小尺寸圖形。典型地,所述圖形已經(jīng)局限于具有小的關(guān)鍵尺寸的設(shè)計圖樣的所選器件。例如,參見美國專利第5,766,806號。雖然在集成電路中的小尺寸圖形的制造已經(jīng)帶來了改進(jìn)的速度和性能,但是期望在這樣的器件的制造中更為廣泛...
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