技術(shù)編號：2741550
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光電測試技術(shù)，尤其涉及一種。 背景技術(shù)隨著科技的不斷發(fā)展，液晶顯示面板基于其輕薄短小，大幅節(jié)省擺放空間等優(yōu)點(diǎn)， 得到了越來越廣泛的應(yīng)用。在液晶顯示面板的生產(chǎn)過程中，液晶顯示面板的測試步驟至關(guān) 重要，其中對液晶顯示面板的測試包括電學(xué)測試和光學(xué)測試，如半導(dǎo)體特性測試、光學(xué)測 試、信號波形測試、點(diǎn)亮測試、電壓透過率曲線測試等等。通常，液晶顯示面板的測試階段分 為模塊(Module)測試、單元(Cell)測試和陣列(Array)測試三個(gè)階段。在現(xiàn)有技術(shù)中...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。