技術(shù)編號:12916783
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體而言涉及一種半導(dǎo)體器件及其制造方法和電子裝置。背景技術(shù)在半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域中,隨著射頻電路(RF)工作頻率和集成度的提高,襯底材料對電路性能的影響越來越大。絕緣體上硅(SOI)襯底因其良好的電學(xué)性能和與CMOS工藝兼容的特點,在射頻電路等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用?,F(xiàn)有的雙面薄SOI工藝中,由于承載晶圓(carrierwafer)離RF(inductor)的器件比較近,會影響RF器件的性能。其次,現(xiàn)有的雙面薄SOI工藝中,由于承載晶圓(carrierwafer)表面沒有經(jīng)過特...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。