技術(shù)編號(hào)：12910297
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。用于檢測存儲(chǔ)器件中可逆電阻轉(zhuǎn)換元件的設(shè)置過程的裝置本申請(qǐng)是申請(qǐng)?zhí)枮椤?00980139728.X”、題為“用于可逆電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)材料的設(shè)置和重置檢測電路”的中國專利申請(qǐng)的分案申請(qǐng)。相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用本申請(qǐng)要求享有在2008年10月6日提交的美國臨時(shí)專利申請(qǐng)No.61/103,225的權(quán)益，將其通過引用結(jié)合于此。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的技術(shù)。背景技術(shù)多種材料顯示出可逆電阻轉(zhuǎn)換性能。這些材料包括硫族化物、碳聚合物(carbonpolymer)、鈣鈦礦以及某些金屬氧化物和氮化物。具體地，存在僅包括一...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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