技術(shù)編號(hào)：12885887
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于高分子自組裝材料與環(huán)境離子污染物檢測(cè)領(lǐng)域，具體涉及一種離子檢測(cè)用高分子靜電自組裝傳感材料及其制備方法和其應(yīng)用。背景技術(shù)目前具有熒光檢測(cè)功能材料的制備需要采用復(fù)雜的分子印跡技術(shù)，使用有機(jī)溶劑，多步反應(yīng)且需要洗脫模板分子，而且利用微凝膠實(shí)現(xiàn)對(duì)離子的檢測(cè)方法依賴于離子與特定有機(jī)功能基團(tuán)作用所產(chǎn)生的熒光、吸光或電位變化，無法進(jìn)行實(shí)時(shí)在線分析，且往往存在干擾現(xiàn)象，難以適應(yīng)當(dāng)前檢測(cè)工作的需要。石英晶體微天平技術(shù)(QCM)具有非常高的靈敏度，可以測(cè)到納米范圍內(nèi)的薄膜厚度變化和納克范圍內(nèi)的痕量物質(zhì)質(zhì)量...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。