技術(shù)編號(hào):12806245
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明實(shí)施例涉及存儲(chǔ)器技術(shù),尤其涉及存儲(chǔ)器芯片的檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)。背景技術(shù)存儲(chǔ)器芯片的制造工藝復(fù)雜、工序繁多,在制造過(guò)程中可能導(dǎo)致存儲(chǔ)器芯片產(chǎn)生缺陷,且存儲(chǔ)器芯片的缺陷種類多樣。部分有缺陷的存儲(chǔ)器芯片在初始使用時(shí)其性能正常,但經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的使用后,其缺陷往往會(huì)被激發(fā),導(dǎo)致存儲(chǔ)器失效。該類存儲(chǔ)器芯片在出廠檢測(cè)時(shí)為良品、無(wú)法被篩除,在投入市場(chǎng)經(jīng)過(guò)客戶一段時(shí)間的使用,存儲(chǔ)器會(huì)發(fā)生早期失效的狀況,對(duì)客戶造成影響。為了解決存儲(chǔ)器早期失效的問(wèn)題,現(xiàn)有技術(shù)中通常在出廠前通過(guò)探針卡對(duì)存儲(chǔ)器芯片進(jìn)行運(yùn)...
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