技術(shù)編號(hào)：12798495
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明實(shí)施例涉及IC卡(IntegratedCircuitCard，集成電路卡)測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種IC卡彎曲測試裝置和方法。背景技術(shù)IC卡在我們的生活中使用越來越普遍，使用數(shù)量越來越大，但是用戶在使用中經(jīng)常出現(xiàn)使用一段時(shí)間后，IC卡不能使用的現(xiàn)象。對(duì)損壞后返回的IC卡進(jìn)行分析，除去人為損壞的卡，大部分是芯片虛接、虛焊或線圈線變形造成線與線之間虛接，造成IC卡使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不能使用現(xiàn)象。現(xiàn)有技術(shù)中的一種IC卡彎曲測試方法包括；將IC卡放在兩個(gè)卡槽中，通過兩個(gè)卡槽之間距離變化強(qiáng)迫IC卡彎...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。