技術(shù)編號：12783377
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及光學技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光學相干層析變形場降噪方法。背景技術(shù)光學相干層析(OCT)是一種利用低相干光干涉原理的層析測量技術(shù)，它具有測量速度快和無損檢測等優(yōu)點，可以實現(xiàn)材料內(nèi)部微米級輪廓的精確測量。在結(jié)合了光譜儀結(jié)構(gòu)后發(fā)展出的譜域光學相干層析技術(shù)(SOCT)，進一步提高了該方法的測量速度與信噪比。近年來，以SOCT技術(shù)為基礎(chǔ)又發(fā)展出了一系列新的功能型OCT方法，例如測量材料內(nèi)部雙折射特性的偏振敏感SOCT，測量材料內(nèi)部流速場的多普勒SOCT，以及測量材料內(nèi)部變形場的相位對照SOCT等，...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。